BeamGatherstarOEV1 InGaAs Laser Spot Quality Analysis System GigE 0.4/0.9-1.7μm Waveband

原産地:中国
ブランド名:Gatherstar (Leading)
認証:CE; ISO
モデル番号:ビームギャザースターOEV1
最低注文数量:1個
価格:Contact Us
支払い条件:T/T
製品説明
1. Introduction BeamLeadingOEV1 spot quality analysis system leverages high-performance InGaAs focal-plane detector to characterize laser spots within 0.4/0.9 μm-1.7 μm spectral range. It completes comprehensive testing including spot dimension, shape, centroid position and energy-distribution analysis. The system adopts GigE(RJ45) data transmission. It is equipped with dedicated display-and-control software, and provides TCP communication interface to realize data interactio
製品概要

マルチバリアント InGaAs FPA オプション、包括的なレーザー スポット パラメータ テスト、サードパーティ ソフトウェア統合のための TCP インターフェイスによる GigE 伝送。

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