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製品
SWIR InGaAsカメラ
BeamGatherstarOEV1 InGaAs Laser Spot Quality Analysis System GigE 0.4/0.9-1.7μm Waveband
GS-SNIR-640-G 640×512 InGaAs 超スペクトル SWIR カメラ GigE 双スペクトルモード 拡張帯域幅 OEM
GS-SNIR-320-G 320×256 InGaAs ハイパースペクトルSWIRカメラ GigE デュアル分光モード 拡張可能スペクトル OEM
GS‑SWL102417125K‑C‑G 1024×1 12.5μm TEC冷却SWIR InGaAsリニアSWIR InGaAsカメラ 25KHz GigEコンパクトハウジング OEM
GS‑V4‑SW25601703100S‑UC‑G 2560×2048 3.45μm 非冷却SWIR InGaAsカメラ GigE 高解像度
GS‑V4‑SW6401705250S‑UC‑G 640×512 5μm 非冷却SWIR InGaAsカメラ 250Hz GigE 高フレームレート OEM
GS‐V4‐SW1280170590S‐UC‐G 1280×1024 5μm 冷却されていないSWIR InGaAsカメラ 90Hz GigE 長時間曝光
GS‑V4‑SW1280170550‑UC‑G 1280×1024 5μm 非冷却SWIR InGaAsカメラ 0.4‑1.7μm GigE OEM対応
GS‑V4‑SW12801705130S‑UC‑CL 1280×1024 5μm 非冷却SWIR InGaAsカメラ 130Hz Camera Link 広帯域ゲイン
赤外線光電子試験用製品
赤外線画像ターゲットシミュレーター 8‐14μm 1024×768 DMD 80Hz ダイナミックシーンプロジェクション
携帯用光学軸試験装置 多帯域校正装置 長時間フィールド試験
オプティカルコンポーネントの表面欠陥検出器 オートスクラッチ・ピット検出 双標準
多スペクトル多軸試験装置 Φ220mm コリマータ 多チャンネル波視校正
RLK656/656D Benchtop DHR Infrared Emission Meter Single / Dual‑Band RS‑485 Remote Control Lab OEM
RLK651 Handheld DHR Infrared Emission Meter 2‑22μm Wide‑Band Light‑Weight Field Test OEM
RLK650 pro Portable DHR Infrared Emission Meter Dual‑Band 3‑5μm/8‑14μm Field Test OEM
RLK600シリーズ マルチスペクトル デジタル赤外線放射温度計 MCT InSb検出器 RS422 長距離伝送
光電子検出器・センサー
広域単点インガAsPIN光二極子 短波長強化 0.6−1.7μm OEM
インナー・アウターデュアルゾーンクアドラント光電モジュール 400-1100nm OEM
GS-QD2416-3 φ16mm クワドラントフォト検出モジュール 400-1100nm コンパクト 高感度 OEM
GS-QD2410-X φ10mm クアドラントフォト検出モジュール 400-1100nm TO25 TO37 パッケージ OEM
GS-FPA-0640P15F 640×512 15μm クールドアレイ InGaAs検出器 TE1/TE2 28ピン SDIP OEM
GS-FPA-0640P15F-17-C 640×512 15μm 無冷却エリア配列 InGaAs検出器 64ピン CLCC
GS-FPA-640×512 640×512 25μm 冷却エリア配列 InGaAs検出器 TE1/TE2 28ピン MDIP
GS-FPA-320×256-K 320×256 30μm クールドアレイ InGaAs検出器 TE1/TE2 28ピンMDIPパッケージ
GS-FPA-320×256-C 320×256 30μm 非冷却エリアアレイ InGaAs検出器 44ピン CLCC OEM
