GS-SW3201730200-C-G 320×256 30 мкм ТЭК-охлаждаемая SWIR InGaAs камера 200 кадров/с Высокая КЭ GigE Полный SDK
GS-SW3201730200-C-G - это высокопроизводительная камера SWIR с охлаждением TEC, работающая в спектральном диапазоне 0,9–1,7 мкм с простым управлением. Она использует InGaAs FPA с разрешением 320*256 и размером пикселя 30 мкм, поддерживая частоту кадров полного разрешения до 200 Гц. Стандартная конфигурация включает цифровой выход GigE; аналоговый видеоинтерфейс PAL/NTSC может быть настроен по запросу для специальных системных требований. Для простоты эксплуатации прилагается эксклюзивное программное обеспечение для отображения и управления, а также полные пакеты SDK для поддержки вторичной разработки клиентов. Оснащенный чипом охлаждения TEC, регулируемый контроллер температуры работает адаптивно при различных температурах окружающей среды. Он поддерживает произвольное считывание ROI для увеличения частоты кадров по мере необходимости и оснащен сменным креплением объектива C/CS для бесшовной интеграции со спектрометрами и специализированным оптоэлектронным оборудованием. Разработанные и произведенные Gatherstar Optoelectronic с 15-летним опытом исследований и разработок в области оптоэлектроники, все камеры проходят контроль качества ISO и CE. Мы предоставляем гибкие услуги OEM-кастомизации механической структуры и функций визуализации для уникальных проектных задач.
- Высокочувствительная InGaAs матрица с квантовой эффективностью более 70% в диапазоне от 1,0 мкм до 1,6 мкм
- Разрешение 320*256 и большой размер пикселя 30 мкм для выдающейся производительности при слабом освещении
- Термоэлектрическое охлаждение TEC с автоматическим и ручным режимами двойного управления охлаждением
- Независимая автоматическая/ручная регулировка усиления, ручная регулировка контрастности изображения
- Бортовая коррекция неравномерности пикселей в реальном времени для равномерных результатов изображения
- Стандартный цифровой выход GigE RJ45; аналоговое видео PAL/NTSC является дополнительной настраиваемой функцией
- Функция произвольной области интереса (ROI) для увеличения частоты кадров при высокоскоростном отслеживании целей
- Поддержка интегрированной бортовой функции отслеживания
- Сменное крепление объектива C/CS с зарезервированными установочными отверстиями стандарта M3
- Соответствующее проприетарное программное обеспечение + открытый SDK, широкий диапазон температур для лабораторного и полевого использования
| Модель | GS-SW3201730200-C-G |
|---|---|
| Тип детектора | InGaAs FPA |
| Спектральный диапазон | 0,9 мкм ~ 1,7 мкм |
| Разрешение | 320 x 256 |
| Размер пикселя | 30 мкм |
| Активная область | 9,6 мм x 7,68 мм |
| Квантовая эффективность | >70% @1,0 мкм-1,6 мкм |
| Работоспособность пикселей | ≥99,5% |
| Тип охладителя | Охлаждение TEC |
| Максимальная частота кадров | 200 Гц |
| ROI | Поддержка ROI в произвольном положении |
| Тип затвора | Глобальный затвор |
| Время экспозиции | 10 мкс – 1/кадр |
| Формат цифрового вывода | 8/14 бит GigE |
| Аналоговый видеовыход | PAL/NTSC (опционально, настраивается по запросу) |
| Бортовая обработка изображений | Автоматическая/ручная экспозиция; автоматическое/ручное усиление; коррекция неравномерности; коррекция пикселей |
| Функция изображения | Выбор частоты кадров, выбор метода синхронизации, ручная регулировка контрастности/яркости, улучшение изображения, вывод тестового изображения, сохранение параметров, индикация перекрестия |
| Электрический интерфейс | HR10 |
| Цифровой интерфейс | RJ45 GigE |
| Аналоговый интерфейс | SMA (опционально, настраиваемая часть) |
| Порт внешнего триггера | TTL/LVDS |
| Крепление объектива | Крепление C/CS |
| Механический интерфейс | 8*M3/1/4"-20 |
| Вход питания | 12 В постоянного тока |
| Потребляемая мощность | <5 Вт (TEC выключен) |
| Рабочая температура | -40°C ~ +55°C |
| Температура хранения | -50°C ~ +65°C |
Примечание: Технические характеристики приведены только для справки и могут быть изменены без предварительного уведомления.
Визуализация при слабом освещении, медицинская и научная спектральная визуализация, гиперспектральный контроль, визуализация отслеживания лазерных пятен, высокотемпературное тепловое обнаружение, дистанционное зондирование для поиска и спасения, идентификация замаскированных целей, сортировка промышленных отходов, контроль внутренних дефектов полупроводников
1. Оптимизированный чип InGaAs с квантовой эффективностью выше 70% для устойчивого захвата слабого сигнала. 2. Максимальная частота кадров при полном разрешении 200 Гц, считывание рентабельности инвестиций еще больше ускоряет высокоскоростной сбор данных. 3. Двойной автоматический/ручной контроль температуры TEC, обеспечивает стабильное изображение при переменной a.